Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R
866,78 zł
Sprzedaje firma Libristo
Jak sortujemy?
Dostawa za darmo
Dostawa i płatność
Przewidywany czas wysyłki16-21 dni roboczych
Szczegóły
Sprzedawca zagraniczny
Więcej informacji
Zwrotdo 14 dni
Zwroty
Wszystkie produkty sprzedawcy
Informacje szczegółowe
Pokaż wszystkieIlość stron:
810
Autor:
Rubak Ege, Baddeley Adrian, Turner Rolf
Okładka:
twarda
Program Ochrony Kupujących
Na empik.com kupujesz bezpiecznie.
Każdy sprzedawca w empik.com jest przedsiębiorcą. Wszystkie obowiązki związane z umową sprzedaży ciążą na sprzedawcy. Za wysłanie produktu odpowiada sprzedawca.
Informacje szczegółowe
| ID produktu: | 1122535878 |
|---|---|
| Tytuł: | Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R |
| Autor: | |
| Wydawnictwo: | |
| Język wydania: | english |
| Liczba stron: | 810 |
| GPSR - osoba odpowiedzialna i certyfikaty: |
Oceny i recenzje o produkcie
Nikt jeszcze nie dodał recenzji tego produktu.
Bądź pierwszy!Twoja opinia będzie bardzo przydatna dla innych użytkowników.
