empikfoto.pl
empikbilety.pl
EmpikGO
Papiernik
Zostań sprzedawcą
Empik Premium
Empik Pasje
Aplikacja mobilna
Biznes
Pomoc
EMPIK.COM Sklep internetowy z darmową dostawą do ponad 300 salonów EMPIK w Polsce.
Wypróbuj
Premium
Dowolna kategoria
Wszystkie kategorie
PROMOCJE %
Prezenty
TOP 100
Nowości
Zapowiedzi
Witaj
zaloguj się
Zaloguj się
Nie masz konta?
Załóż je
Zamówienia Empik.com
Paragony Empik
Abonamenty Empik Go
Empik Premium
Moje listy
Produkty cyfrowe
Dostępne środki
Mój profil
Moje recenzje
Moje zgody
Pomoc
Empik Premium
0,00 zł
Pusty koszyk
Książki obcojęzyczne
Books
Science, Math
Engineering
Electrical
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Shen Ruijing
Tan Sheldon X.-D.
Yu Hao
0,0
(0)
